检具测量系统所应具有的统计特性

　　检具测量系统必须处于统计控制中，这意味着测量系统中的变差只能是由于普通原因而不是由于特殊原因造成的。这可称为统计稳定性。

　　检具测量系统的变差必须比检具制造过程的变差小。变差应小于公差带。测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，测量精度是过程变差和公差带两者中精度较高者的十分之一。

　　测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。如果发生变化，测量系统的最大的变差应小于过程变差和公差带两者中的较小者。

　　检具重复性(AV)：指同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值(数据)的变差。

　　检具再现性(EV)：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。

　　检具稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。

　　结果分析：

　　当重复性(AV)变差值大于再现性(EV)时，检具的结构需在设计增强。检具的夹紧或零件定位的方式(检验点)需加以改善，检具应加以保养。

　　当再现性(EV)变差值大于重复性(AV)时，作业员对检具的操作方法及数据读取方式应加强教育，作业标准应再明确订定或修订。可能需要某些夹具协助操作员，使其更具一致性的使用检具。

　　检具与夹具校验频率于入厂及送修纠正后须再做测量系统分析，并作记录。